在过去的几年中,晶体拓扑已在光子晶体中使用,以实现边缘和角落的状态,从而增强了潜在的设备应用的光 - 物质相互作用。然而,当前用于对散装拓扑结晶相分类的带理论方法无法预测任何结果边界 - 定位模式的存在,定位或光谱隔离。虽然不同晶体中材料之间的界面必须具有某种能量的拓扑状态,但这些状态不必出现在带隙内,因此对于应用可能没有用。在这里,我们得出了一类局部标记,用于识别由于结晶对称性以及相应的拓扑保护量度。作为我们基于真实空间的方法本质上是局部的,它立即揭示了拓扑边界 - 定位状态的存在和鲁棒性,从而产生了设计拓扑结晶异质结构的预测框架。除了启用设备几何形状的优化外,我们预计我们的框架还将为依赖空间对称性的其他类别的拓扑类别提供局部标记提供途径。
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